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SN74LVTH18502APMG4

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SN74LVTH18502APMG4

SN74LVTH18502APMG4

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH18502APMG4 Ficha de dados

não conforme

SN74LVTH18502APMG4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensão de alimentação 2.7V ~ 3.6V
número de bits 18
temperatura de operação -40°C ~ 85°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 64-LQFP
pacote de dispositivo do fornecedor 64-LQFP (10x10)
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Número da peça relacionada

SN74ABT8646DWRE4
Texas Instruments
SN74ABT8646DWRE4
$0 $/pedaço
SY54016ARMG-TR
Microchip Technology
SY54016ARMG-TR
$0 $/pedaço
MAX9963AJCCQ+D
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
MAX9963AJCCQ+D
$0 $/pedaço
SY10EL16VZC
Microchip Technology
SY10EL16VZC
$0 $/pedaço
SY10EP16VZG-TR
Microchip Technology
SY10EP16VZG-TR
$0 $/pedaço
74F182SJX
Fairchild Semiconductor
74F182SJX
$0 $/pedaço
74SSTUBF32869ABKG
Renesas Electronics America Inc
74SSTUBF32869ABKG
$0 $/pedaço
SY100EL16VOKG-TR
Microchip Technology
SY100EL16VOKG-TR
$0 $/pedaço
SY100EL16VSKI-TR
Microchip Technology
SY100EL16VSKI-TR
$0 $/pedaço
SSTU32866EC/G,551
NXP USA Inc.
SSTU32866EC/G,551
$0 $/pedaço
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