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SN74LVTH182502APM

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SN74LVTH182502APM

SN74LVTH182502APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH182502APM Ficha de dados

não conforme

SN74LVTH182502APM Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $6.72000 $6.72
500 $6.6528 $3326.4
1000 $6.5856 $6585.6
1500 $6.5184 $9777.6
2000 $6.4512 $12902.4
2500 $6.384 $15960
0 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Active
tipo lógico ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensão de alimentação 2.7V ~ 3.6V
número de bits 18
temperatura de operação -40°C ~ 85°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 64-LQFP
pacote de dispositivo do fornecedor 64-LQFP (10x10)
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Número da peça relacionada

74AUP1Z04GW/C125
NXP USA Inc.
74AUP1Z04GW/C125
$0 $/pedaço
SN74S1053PWR
Texas Instruments
SN74S1053PWR
$0 $/pedaço
SN74ACT1071DR
Texas Instruments
SN74ACT1071DR
$0 $/pedaço
SN74S1051NSR
Texas Instruments
SN74S1051NSR
$0 $/pedaço
4008BDC
National Semiconductor
4008BDC
$0 $/pedaço
SN74ABT18640DL
Texas Instruments
SN74ABT18640DL
$0 $/pedaço
NTS0304EPWJ
NXP USA Inc.
NTS0304EPWJ
$0 $/pedaço
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74LV161284DL
$0 $/pedaço
MC10LVEP16DTR2G
onsemi
MC10LVEP16DTR2G
$0 $/pedaço
MC100EL16DR2
onsemi
MC100EL16DR2
$0 $/pedaço
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