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SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

SOT-23

não conforme

SN74BCT8374ANTG4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Through Hole
pacote / caixa 24-DIP (0.300", 7.62mm)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-PDIP
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Número da peça relacionada

SY10EL16VCKG
N74F283D,602
N74F283D,602
$0 $/pedaço
SSTVF16857DGG,512
SSTVF16857DGG,512
$0 $/pedaço
SSTUH32864EC/G,518
SSTUH32864EC/G,518
$0 $/pedaço
SY10EP16UZG
CD4007CN
CD4007CN
$0 $/pedaço
SSTV16859DGG,118
SSTV16859DGG,118
$0 $/pedaço
SY10EL16VBKG

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