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SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

compliant

SN74BCT8374ADWRE4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
Inventory changes frequently.
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

SSTUG32865ET/S,518
SSTUG32865ET/S,518
$0 $/pedaço
SY100S314JY
5483ADM
5483ADM
$0 $/pedaço
PI74SSTVF16857AEX
SSTUA32866EC,518
SSTUA32866EC,518
$0 $/pedaço
SSTVF16859BS,157
SSTVF16859BS,157
$0 $/pedaço
SY100S314JC
74GTLP22034DGGRG4
SY100EL16VFKI
NLV14490DWG
NLV14490DWG
$0 $/pedaço

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