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SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

SOT-23

não conforme

SN74BCT8374ADWR Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

CD40117BMT
CD40117BMT
$0 $/pedaço
PI74SSTVF16857AAE
SY100EL16VZI
SY100EP16VZG-TR
SY100EL16VEZC TR
MC100EP16VSDR2
MC100EP16VSDR2
$0 $/pedaço
74LVT1403DR,118
74LVT1403DR,118
$0 $/pedaço
SY10EP16VKC
SY10EL16VDZC
SSTUA32864EC/G,551
SSTUA32864EC/G,551
$0 $/pedaço

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