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SN74BCT8373ANT

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SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

SN74BCT8373ANT Ficha de dados

não conforme

SN74BCT8373ANT Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $5.55000 $5.55
500 $5.4945 $2747.25
1000 $5.439 $5439
1500 $5.3835 $8075.25
2000 $5.328 $10656
2500 $5.2725 $13181.25
2169 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with D-Type Latches
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Through Hole
pacote / caixa 24-DIP (0.300", 7.62mm)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-PDIP
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Número da peça relacionada

SNJ54AS181BJT
Texas Instruments
SNJ54AS181BJT
$0 $/pedaço
MC10E116FN
onsemi
MC10E116FN
$0 $/pedaço
SN74ACT1284NSR
Texas Instruments
SN74ACT1284NSR
$0 $/pedaço
SN74ABT8646DLR
Texas Instruments
SN74ABT8646DLR
$0 $/pedaço
SY100EL16VAZG-TR
Microchip Technology
SY100EL16VAZG-TR
$0 $/pedaço
MC10LVEP16DR2
onsemi
MC10LVEP16DR2
$0 $/pedaço
SN74BCT2414DW
Texas Instruments
SN74BCT2414DW
$0 $/pedaço
SN74LS181N
Texas Instruments
SN74LS181N
$0 $/pedaço
AM29C983AKC/W
Advanced Micro Devices
AM29C983AKC/W
$0 $/pedaço
CD74AC283M96
Texas Instruments
CD74AC283M96
$0 $/pedaço
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