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SN74BCT8373ADWRE4

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SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

SN74BCT8373ADWRE4 Ficha de dados

compliant

SN74BCT8373ADWRE4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with D-Type Latches
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

SY10EL16VDKI-TR
Microchip Technology
SY10EL16VDKI-TR
$0 $/pedaço
SY10E116JY-TR
Microchip Technology
SY10E116JY-TR
$0 $/pedaço
SSTUA32866EC/G,557
NXP USA Inc.
SSTUA32866EC/G,557
$0 $/pedaço
SSTVA16859AKLF
Renesas Electronics America Inc
SSTVA16859AKLF
$0 $/pedaço
74SSTUA32866BFG
Renesas Electronics America Inc
74SSTUA32866BFG
$0 $/pedaço
SN74STV16857DGGRG4
Texas Instruments
SN74STV16857DGGRG4
$0 $/pedaço
SN74LS181NG4
Texas Instruments
SN74LS181NG4
$0 $/pedaço
74GTLP22034DGGRE4
Texas Instruments
74GTLP22034DGGRE4
$0 $/pedaço
MM74C908N
onsemi
MM74C908N
$0 $/pedaço
SY100S815ZH-TR
Microchip Technology
SY100S815ZH-TR
$0 $/pedaço
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