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SN74BCT8373ADWR

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SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

SOT-23

SN74BCT8373ADWR Ficha de dados

não conforme

SN74BCT8373ADWR Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $3.43000 $3.43
500 $3.3957 $1697.85
1000 $3.3614 $3361.4
1500 $3.3271 $4990.65
2000 $3.2928 $6585.6
2500 $3.2585 $8146.25
32973 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with D-Type Latches
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

SN74S1052DWR
Texas Instruments
SN74S1052DWR
$0 $/pedaço
LM9780CCVS
National Semiconductor
LM9780CCVS
$0 $/pedaço
SN74H183N
Texas Instruments
SN74H183N
$0 $/pedaço
SN74F1016DW
Texas Instruments
SN74F1016DW
$0 $/pedaço
SN74LVTH182512DGGR
Texas Instruments
SN74LVTH182512DGGR
$0 $/pedaço
MC10E416FNG
onsemi
MC10E416FNG
$0 $/pedaço
SY100EL16VFKG
Microchip Technology
SY100EL16VFKG
$0 $/pedaço
MC10EP16TDTG
onsemi
MC10EP16TDTG
$0 $/pedaço
SN74SSTVF16857VR
Texas Instruments
SN74SSTVF16857VR
$0 $/pedaço
CD4089BE
Texas Instruments
CD4089BE
$0 $/pedaço
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