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SN74BCT8244ANTG4

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SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8244ANTG4 Ficha de dados

compliant

SN74BCT8244ANTG4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with Buffers
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Through Hole
pacote / caixa 24-DIP (0.300", 7.62mm)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-PDIP
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Número da peça relacionada

SSTUH32866EC/G,518
NXP USA Inc.
SSTUH32866EC/G,518
$0 $/pedaço
MC10H332P
onsemi
MC10H332P
$0 $/pedaço
SY100EL16VBZC
Microchip Technology
SY100EL16VBZC
$0 $/pedaço
SY100EL16VBZI-TR
Microchip Technology
SY100EL16VBZI-TR
$0 $/pedaço
SY100EL16VBKG
Microchip Technology
SY100EL16VBKG
$0 $/pedaço
SY100EL16VCZI
Microchip Technology
SY100EL16VCZI
$0 $/pedaço
SY100S314FC
Microchip Technology
SY100S314FC
$0 $/pedaço
MM54C83W/883C
National Semiconductor
MM54C83W/883C
$0 $/pedaço
SSTV16859CKLF
Renesas Electronics America Inc
SSTV16859CKLF
$0 $/pedaço
MC100EP16VCDR2
onsemi
MC100EP16VCDR2
$0 $/pedaço
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