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SN74BCT8240ANTG4

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SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8240ANTG4 Ficha de dados

não conforme

SN74BCT8240ANTG4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Through Hole
pacote / caixa 24-DIP (0.300", 7.62mm)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-PDIP
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Número da peça relacionada

SN74ABT18640DGGR
Texas Instruments
SN74ABT18640DGGR
$0 $/pedaço
PI74SSTVF16857KE
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16857KE
$0 $/pedaço
74LVC1GX04DCKTG4
Texas Instruments
74LVC1GX04DCKTG4
$0 $/pedaço
SSTU32864AHLF
Renesas Electronics America Inc
SSTU32864AHLF
$0 $/pedaço
IDT74SSTVN16859CPAG
Renesas Electronics America Inc
IDT74SSTVN16859CPAG
$0 $/pedaço
SY100EL16VFZC TR
Microchip Technology
SY100EL16VFZC TR
$0 $/pedaço
SY100E116JY
Microchip Technology
SY100E116JY
$0 $/pedaço
CD74ACT283E
Harris Corporation
CD74ACT283E
$0 $/pedaço
SSTUH32866EC,557
NXP USA Inc.
SSTUH32866EC,557
$0 $/pedaço
CD74ACT283EG4
Texas Instruments
CD74ACT283EG4
$0 $/pedaço
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