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SN74BCT8240ADWRG4

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SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

SN74BCT8240ADWRG4 Ficha de dados

compliant

SN74BCT8240ADWRG4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

SY10E416JI-TR
Microchip Technology
SY10E416JI-TR
$0 $/pedaço
SY10EL16VBKC
Microchip Technology
SY10EL16VBKC
$0 $/pedaço
SSTVF16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGG,518
$0 $/pedaço
IDT74SSTVN16859PAG8
Renesas Electronics America Inc
IDT74SSTVN16859PAG8
$0 $/pedaço
SY100S815ZC
Microchip Technology
SY100S815ZC
$0 $/pedaço
MC10H332PG
onsemi
MC10H332PG
$0 $/pedaço
SY58016LMI
Microchip Technology
SY58016LMI
$0 $/pedaço
SY10EL16VBKI
Microchip Technology
SY10EL16VBKI
$0 $/pedaço
74LVTH18502APMRG4
Texas Instruments
74LVTH18502APMRG4
$0 $/pedaço
SY10E416JI
Microchip Technology
SY10E416JI
$0 $/pedaço
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