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SN74BCT8240ADWRE4

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SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

SN74BCT8240ADWRE4 Ficha de dados

compliant

SN74BCT8240ADWRE4 Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

SY100EP16UZG-TR
Microchip Technology
SY100EP16UZG-TR
$0 $/pedaço
SY10E416JC-TR
Microchip Technology
SY10E416JC-TR
$0 $/pedaço
74LVC161284TTR
STMicroelectronics
74LVC161284TTR
$0 $/pedaço
CD40117BPWG4
Texas Instruments
CD40117BPWG4
$0 $/pedaço
MC14008BD
onsemi
MC14008BD
$0 $/pedaço
CD40117BM96G4
Texas Instruments
CD40117BM96G4
$0 $/pedaço
SN74ABT8652DWRE4
Texas Instruments
SN74ABT8652DWRE4
$0 $/pedaço
CD4007UBEG4
Texas Instruments
CD4007UBEG4
$0 $/pedaço
SSTUH32865ET,557
NXP USA Inc.
SSTUH32865ET,557
$0 $/pedaço
PI74SSTVF16859AZBE
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16859AZBE
$0 $/pedaço
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