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SN74BCT8240ADWR

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SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

SOT-23

SN74BCT8240ADWR Ficha de dados

não conforme

SN74BCT8240ADWR Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
1 $6.85000 $6.85
500 $6.7815 $3390.75
1000 $6.713 $6713
1500 $6.6445 $9966.75
2000 $6.576 $13152
2500 $6.5075 $16268.75
30000 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Obsolete
tipo lógico Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação 0°C ~ 70°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

MC100EP16MNR4G
onsemi
MC100EP16MNR4G
$0 $/pedaço
74AUP1Z04GF132
NXP USA Inc.
74AUP1Z04GF132
$0 $/pedaço
SN74BCT8245ANT
Texas Instruments
SN74BCT8245ANT
$0 $/pedaço
SN74S1052N
Texas Instruments
SN74S1052N
$0 $/pedaço
MC10H332FNR2
onsemi
MC10H332FNR2
$0 $/pedaço
MC10EP116FAR2
onsemi
MC10EP116FAR2
$0 $/pedaço
NB100LVEP17MNR2G
onsemi
NB100LVEP17MNR2G
$0 $/pedaço
NXS0104BQ-Q100X
Nexperia USA Inc.
NXS0104BQ-Q100X
$0 $/pedaço
SN74SSTVF16859S8G3
Texas Instruments
SN74SSTVF16859S8G3
$0 $/pedaço
ISL55100BIRZ
Renesas Electronics America Inc
ISL55100BIRZ
$0 $/pedaço
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