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SN74ABT8245DWR

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SN74ABT8245DWR

SN74ABT8245DWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

SN74ABT8245DWR Ficha de dados

compliant

SN74ABT8245DWR Preços e pedidos

Quantidade Preço unitário Preço Ext.
2,000 $3.49960 -
2000 items
Adicionar ao desejo
Bom Custo Baixo
Bom Custo Baixo
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Preços de atacado para todos os pedidos, grandes ou pequenos
Nome Valor
status do produto Active
tipo lógico Scan Test Device with Bus Transceivers
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
número de bits 8
temperatura de operação -40°C ~ 85°C
tipo de montagem Surface Mount
pacote / caixa 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
pacote de dispositivo do fornecedor 24-SOIC
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Número da peça relacionada

NXS0104BQX
Nexperia USA Inc.
NXS0104BQX
$0 $/pedaço
MC100EP16DR2G
onsemi
MC100EP16DR2G
$0 $/pedaço
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
$0 $/pedaço
SY100EP16UMG-TR
Microchip Technology
SY100EP16UMG-TR
$0 $/pedaço
DM74LS283M
Fairchild Semiconductor
DM74LS283M
$0 $/pedaço
MC100LVEL17DWR2G
onsemi
MC100LVEL17DWR2G
$0 $/pedaço
HEF4007UBP,652
NXP USA Inc.
HEF4007UBP,652
$0 $/pedaço
CD40117BPWR
Texas Instruments
CD40117BPWR
$0 $/pedaço
MC100EP16VAMNR4G
onsemi
MC100EP16VAMNR4G
$0 $/pedaço
SN74FB2033ARCG3
Texas Instruments
SN74FB2033ARCG3
$0 $/pedaço
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